Advances in x-ray diffractometry and x-ray spectrography: a volume of fifteen selected reprints from philips laboratories Irvington-on Hudson, New York, USA

Bibliografiset tiedot
Muut tekijät: Parrish, william., ed
Aineistotyyppi: Printed Book
Kieli:English
Julkaistu: Eindhoven Centrex Publishing Cp. 1962
Aiheet:
X-ray diffractometry > X-ray spectrography
Kuvaus
Kuvausta ei saatavissa.

Samankaltaisia teoksia