Advances in x-ray diffractometry and x-ray spectrography: a volume of fifteen selected reprints from philips laboratories Irvington-on Hudson, New York, USA

Podrobná bibliografie
Další autoři: Parrish, william., ed
Médium: Printed Book
Jazyk:English
Vydáno: Eindhoven Centrex Publishing Cp. 1962
Témata:
X-ray diffractometry > X-ray spectrography
Popis
Žádný popis.

Podobné jednotky