Novel application of anomalous (resonance) X-ray scattering for structural characterization of disordered materials /

Bibliografische gegevens
Hoofdauteur: Waseda, Yoshio
Formaat: Printed Book
Taal:English
Gepubliceerd in: New York : Springer-Verlag, 1984.
Onderwerpen:
Order-disorder models > X-rays--Scattering

PHY

Exemplaargegevens van PHY
Plaatsingsnummer: 530.4 WAS
Kopie Status is onbeschikbaar

Gelijkaardige items