Wordt geladen...

Accelerated testing: statistical models, test plans and data analysis

Bibliografische gegevens
Hoofdauteur: Nelson, Wayne B
Formaat: Printed Book
Taal:English
Gepubliceerd in: New Jersey John Wiley 2004
Onderwerpen:
Omschrijving
Fysieke beschrijving:601p.
ISBN:978-0-471-69736-7