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Stochastic reliability modeling, optimization and applications

Détails bibliographiques
Auteur principal: Ed by Nakamura, Syouji
Autres auteurs: Nakagawa, Toshio
Format: Printed Book
Langue:English
Publié: New Jersey World Scientific 2010
Sujets:
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par Nakamura, Syouji. ed
Publié 2010
Printed Book