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Foundations of statistical inference: proceedings of the Shoresh conference 2000

Detalhes bibliográficos
Autor principal: Ed by Haitovsky, Yoel
Outros Autores: Lerche, Hans Rudolf, Ritov, Yaacov
Formato: Printed Book
Idioma:English
Publicado em: Heidelberg Physica-Verlag 2003
Assuntos:

STA

Detalhes do Exemplar STA
Área/Cota: 519.226 HAI
Cód. Barras: Informação em tempo real indisponível