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Foundations of statistical inference: proceedings of the Shoresh conference 2000

Détails bibliographiques
Auteur principal: Ed by Haitovsky, Yoel
Autres auteurs: Lerche, Hans Rudolf, Ritov, Yaacov
Format: Printed Book
Langue:English
Publié: Heidelberg Physica-Verlag 2003
Sujets:

STA

Informations d'exemplaires de STA
Cote: 519.226 HAI
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