Lataa...

Foundations of statistical inference: proceedings of the Shoresh conference 2000

Bibliografiset tiedot
Päätekijä: Ed by Haitovsky, Yoel
Muut tekijät: Lerche, Hans Rudolf, Ritov, Yaacov
Aineistotyyppi: Printed Book
Kieli:English
Julkaistu: Heidelberg Physica-Verlag 2003
Aiheet:

STA

Saatavuus: STA
Hyllypaikka: 519.226 HAI
Nide Reaaliaikaista tietoa ei saatavissa