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Foundations of statistical inference: proceedings of the Shoresh conference 2000

Detalles Bibliográficos
Autor principal: Ed by Haitovsky, Yoel
Otros Autores: Lerche, Hans Rudolf, Ritov, Yaacov
Formato: Printed Book
Lenguaje:English
Publicado: Heidelberg Physica-Verlag 2003
Materias:

STA

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Número de Clasificación: 519.226 HAI
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