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Foundations of statistical inference: proceedings of the Shoresh conference 2000

書目詳細資料
主要作者: Ed by Haitovsky, Yoel
其他作者: Lerche, Hans Rudolf, Ritov, Yaacov
格式: Printed Book
語言:English
出版: Heidelberg Physica-Verlag 2003
主題:
實物特徵
實物描述:xi,230p.
ISBN:3-7908-0047-3