Nalaganje...

Foundations of statistical inference: proceedings of the Shoresh conference 2000

Bibliografske podrobnosti
Glavni avtor: Ed by Haitovsky, Yoel
Drugi avtorji: Lerche, Hans Rudolf, Ritov, Yaacov
Format: Printed Book
Jezik:English
Izdano: Heidelberg Physica-Verlag 2003
Teme:
Opis
Fizični opis:xi,230p.
ISBN:3-7908-0047-3