Foundations of statistical inference: proceedings of the Shoresh conference 2000

Detalhes bibliográficos
Autor principal: Ed by Haitovsky, Yoel
Outros Autores: Lerche, Hans Rudolf, Ritov, Yaacov
Formato: Printed Book
Idioma:English
Publicado em: Heidelberg Physica-Verlag 2003
Assuntos:
Statistical inference
Descrição
Descrição Física:xi,230p.
ISBN:3-7908-0047-3

Registros relacionados