Foundations of statistical inference: proceedings of the Shoresh conference 2000

Detalles Bibliográficos
Autor Principal: Ed by Haitovsky, Yoel
Outros autores: Lerche, Hans Rudolf, Ritov, Yaacov
Formato: Printed Book
Idioma:English
Publicado: Heidelberg Physica-Verlag 2003
Subjects:
Statistical inference
Descripción
Descrición Física:xi,230p.
ISBN:3-7908-0047-3

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