Chargement en cours...

Foundations of statistical inference: proceedings of the Shoresh conference 2000

Détails bibliographiques
Auteur principal: Ed by Haitovsky, Yoel
Autres auteurs: Lerche, Hans Rudolf, Ritov, Yaacov
Format: Printed Book
Langue:English
Publié: Heidelberg Physica-Verlag 2003
Sujets:
Description
Description matérielle:xi,230p.
ISBN:3-7908-0047-3