Foundations of statistical inference: proceedings of the Shoresh conference 2000

Bibliografiset tiedot
Päätekijä: Ed by Haitovsky, Yoel
Muut tekijät: Lerche, Hans Rudolf, Ritov, Yaacov
Aineistotyyppi: Printed Book
Kieli:English
Julkaistu: Heidelberg Physica-Verlag 2003
Aiheet:
Statistical inference
Kuvaus
Ulkoasu:xi,230p.
ISBN:3-7908-0047-3

Samankaltaisia teoksia