Lanean...

Foundations of statistical inference: proceedings of the Shoresh conference 2000

Xehetasun bibliografikoak
Egile nagusia: Ed by Haitovsky, Yoel
Beste egile batzuk: Lerche, Hans Rudolf, Ritov, Yaacov
Formatua: Printed Book
Hizkuntza:English
Argitaratua: Heidelberg Physica-Verlag 2003
Gaiak:
Deskribapena
Deskribapen fisikoa:xi,230p.
ISBN:3-7908-0047-3