Foundations of statistical inference: proceedings of the Shoresh conference 2000

Detalles Bibliográficos
Autor principal: Ed by Haitovsky, Yoel
Otros Autores: Lerche, Hans Rudolf, Ritov, Yaacov
Formato: Printed Book
Lenguaje:English
Publicado: Heidelberg Physica-Verlag 2003
Materias:
Statistical inference
Descripción
Descripción Física:xi,230p.
ISBN:3-7908-0047-3

Ejemplares similares