Načítá se...

Foundations of statistical inference: proceedings of the Shoresh conference 2000

Podrobná bibliografie
Hlavní autor: Ed by Haitovsky, Yoel
Další autoři: Lerche, Hans Rudolf, Ritov, Yaacov
Médium: Printed Book
Jazyk:English
Vydáno: Heidelberg Physica-Verlag 2003
Témata:
Popis
Fyzický popis:xi,230p.
ISBN:3-7908-0047-3