Foundations of statistical inference: proceedings of the Shoresh conference 2000

Bibliographische Detailangaben
1. Verfasser: Ed by Haitovsky, Yoel
Weitere Verfasser: Lerche, Hans Rudolf, Ritov, Yaacov
Format: Printed Book
Sprache:English
Veröffentlicht: Heidelberg Physica-Verlag 2003
Schlagworte:
Statistical inference
Beschreibung
Beschreibung:xi,230p.
ISBN:3-7908-0047-3

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