载入...

Linear and nonlinear models for the analysis of repeated measurements

书目详细资料
主要作者: Vonesh, Edward F.
其他作者: Chinchilli, Vernon, M.
格式: Printed Book
语言:English
出版: NewYork Marcel Dekker 1997
主题:

STA

持有资料详情 STA
索引号: 519.233.5 VON
复印件 Live Status Unavailable