טוען...

Linear and nonlinear models for the analysis of repeated measurements

מידע ביבליוגרפי
מחבר ראשי: Vonesh, Edward F.
מחברים אחרים: Chinchilli, Vernon, M.
פורמט: Printed Book
שפה:English
יצא לאור: NewYork Marcel Dekker 1997
נושאים:

STA

פרטי מלאי ספרים מ STA
סימן המיקום: 519.233.5 VON
עותק סטטוס עדכני לא זמין