Načítá se...

Linear and nonlinear models for the analysis of repeated measurements

Podrobná bibliografie
Hlavní autor: Vonesh, Edward F.
Další autoři: Chinchilli, Vernon, M.
Médium: Printed Book
Jazyk:English
Vydáno: NewYork Marcel Dekker 1997
Témata:

STA

Informace o exemplářích z: STA
Signatura: 519.233.5 VON
Jednotka Neznámá aktuální dostupnost