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Linear and nonlinear models for the analysis of repeated measurements

Detalhes bibliográficos
Autor principal: Vonesh, Edward F.
Outros Autores: Chinchilli, Vernon, M.
Formato: Printed Book
Idioma:English
Publicado em: NewYork Marcel Dekker 1997
Assuntos:
Descrição
Descrição Física:xii,560p. floppy
ISBN:0-8247-8248-8