載入...

Applied pattern recognition /

書目詳細資料
其他作者: Bunke, Horst, Kandel, Abraham, Last, Mark
格式: Printed Book
語言:English
出版: New Delhi: Springer International, c2011.
叢編:Studies in computational intelligence ;
主題:
Search Result 1
出版 2008
Printed Book
Search Result 2
出版 2008
Printed Book