Lanean...

Defects control in semiconductors: Proceedings of the conference on the science and technology of defect control in semiconductors,...

Xehetasun bibliografikoak
Formatua: Printed Book
Hizkuntza:English
Argitaratua: Amsterdam North-Holland Publishing Company 1990
Gaiak:

UL

Aleari buruzko argibideak UL
Sailkapena: 621.382:620.1 SUM.2
Alea Egoera zuzenean ez dago erabilgarri