Measurement technique for thin films [proceedings]

গ্রন্থ-পঞ্জীর বিবরন
প্রধান লেখক: Schwartz, Bertram (d. By)
অন্যান্য লেখক: Schwartz, Newton
বিন্যাস: Printed Book
ভাষা:English
প্রকাশিত: New York The Electrochemical Society 1967
বিষয়গুলি:
Microelectronics > Electronics > Semiconductors > Thin films

UL

হোল্ডিংসের বিবরণ UL
ডাক সংখ্যা: 621.3.049.772.2:621.317 SCH
প্রতিলিপি বর্তমান অবস্থা অনুপলব্ধ

অনুরূপ উপাদানগুলি