Measurement technique for thin films [proceedings]

Bibliografiska uppgifter
Huvudupphovsman: Schwartz, Bertram (d. By)
Övriga upphovsmän: Schwartz, Newton
Materialtyp: Printed Book
Språk:English
Publicerad: New York The Electrochemical Society 1967
Ämnen:
Microelectronics > Electronics > Semiconductors > Thin films

UL

Beståndsuppgifter i UL
Signum: 621.3.049.772.2:621.317 SCH
Exemplar Status otillgänglig

Liknande verk