Measurement technique for thin films [proceedings]

מידע ביבליוגרפי
מחבר ראשי: Schwartz, Bertram (d. By)
מחברים אחרים: Schwartz, Newton
פורמט: Printed Book
שפה:English
יצא לאור: New York The Electrochemical Society 1967
נושאים:
Microelectronics > Electronics > Semiconductors > Thin films

UL

פרטי מלאי ספרים מ UL
סימן המיקום: 621.3.049.772.2:621.317 SCH
עותק סטטוס עדכני לא זמין

פריטים דומים