Measurement technique for thin films [proceedings]

Bibliografiset tiedot
Päätekijä: Schwartz, Bertram (d. By)
Muut tekijät: Schwartz, Newton
Aineistotyyppi: Printed Book
Kieli:English
Julkaistu: New York The Electrochemical Society 1967
Aiheet:
Microelectronics > Electronics > Semiconductors > Thin films
Kuvaus
Huomautukset: Symposium sponsored by Electronics division of the electrochemical society
Ulkoasu:vi, 364p.

Samankaltaisia teoksia