Mostrar 1 - 2 resultats de 2 per cerca 'Wang, Laung-Terng', hora de la petició: 0.01sec Refinar resultats
  1. 1
    System-on-chip test architectures: nanometer design for testability
    per Wang, Laung-Terng
    Publicat 2008
    Printed Book
  2. 2
    VLSI test principles and architectures: design for testability
    per Wang, laung-Terng [ed.]
    Publicat 2006
    Printed Book
Eines de cerca: Obtenir subscripció RSS — Enviar per correu electrònic aquesta cerca