Résultat(s)
1 - 3
résultats de
3
pour la requête '
Tandon, U. S.
'
Aller au contenu
VuFind
Langue
English
Deutsch
Español
Français
Italiano
日本語
Nederlands
Português
Português (Brasil)
中文(简体)
中文(繁體)
Türkçe
עברית
Gaeilge
Cymraeg
Ελληνικά
Català
Euskara
Русский
Čeština
Suomi
Svenska
polski
Dansk
slovenščina
اللغة العربية
বাংলা
Galego
Tiếng Việt
Hrvatski
हिंदी
Tous les champs
Titre
Auteur
Sujet
Cote
ISBN/ISSN
Tag
Rechercher
Recherche avancée
Auteur
Tandon, U. S.
Résultat(s)
1 - 3
résultats de
3
pour la requête '
Tandon, U. S.
'
, Temps de recherche: 0,01s
Affiner les résultats
Trier
Pertinence
Date (décroissante)
Date (croissante)
Cote
Auteur
Titre
1
Chargement en cours...
Pattering of material layers in submicron region
par
Tandon
,
U
. S.
Publié 1993
Cote:
Chargement en cours...
Localisé:
Chargement en cours...
Printed Book
Chargement en cours...
2
Chargement en cours...
Patterning of materian layers in submicron region
par
Tandon
,
U
S; Khokle, W S
Publié 1993
Cote:
Chargement en cours...
Localisé:
Chargement en cours...
Printed Book
Chargement en cours...
3
Chargement en cours...
Patterning of material layers in submicron region
par
Tandon
,
U
S; Khokle, W S
Publié 1993
Cote:
Chargement en cours...
Localisé:
Chargement en cours...
Printed Book
Chargement en cours...
Outils de recherche:
S'abonner aux flux RSS
—
Envoyer cette recherche par courriel
Sujets similaires
Lithography, Electron beam
Chargement en cours...