প্রদর্শন
1 - 2
ফলাফল এর
2
বিষয়বস্তু এড়িয়ে যান
VuFind
ভাষা
English
Deutsch
Español
Français
Italiano
日本語
Nederlands
Português
Português (Brasil)
中文(简体)
中文(繁體)
Türkçe
עברית
Gaeilge
Cymraeg
Ελληνικά
Català
Euskara
Русский
Čeština
Suomi
Svenska
polski
Dansk
slovenščina
اللغة العربية
বাংলা
Galego
Tiếng Việt
Hrvatski
हिंदी
একটি নতুন মৌলিক অনুসন্ধান শুরু করুন
|
একটি নতুন বিস্তৃত অনুসন্ধান শুরু করুন
Versions -
Analysis and identification of traps in some binary semiconducting thin films using thermally stimulated current measurements
প্রদর্শন
1 - 2
ফলাফল এর
2
, জিজ্ঞাসা করার সময়: 0.01সেকেন্ড
ফলাফল পরিমার্জন করুন
শ্রেণী করন
প্রাসঙ্গিকতা
তারিখ অধোগামী অনুযায়ী সাজান
তারিখ ঊর্ধ্বগামী অনুযায়ী সাজান
ডাকসংখ্যা
লেখক
আখ্যা
1
লোডিং...
Analysis and identification of traps in some binary semiconducting thin films using thermally stimulated current measurements
অনুযায়ী
Rupa, R. Pai
প্রকাশিত 2004
ডাক সংখ্যা:
লোডিং...
অবস্থিত:
লোডিং...
Printed Book
লোডিং...
2
লোডিং...
Analysis and identification of traps in some binary semiconducting thin films using thermally stimulated current measurements
অনুযায়ী
Rupa R. Pai
প্রকাশিত 2004
ডাক সংখ্যা:
লোডিং...
অবস্থিত:
লোডিং...
Printed Book
লোডিং...
অনুসন্ধান সাধনীগুলি:
আরএসএস প্রতিক্রিয়া পাওয়ার জন্য
—
এই ই-মেইলটি অনুসন্ধান করুন
পেছনে
সংকীর্ণ অনুসন্ধান
প্রতিষ্ঠান
CUSAT
2
গ্রন্থাগার
Department of Physics
1
University Library
1
বিন্যাস
Printed Book
2
ডাক সংখ্যা
500 - Natural sciences and mathematics
1
লেখক
Rupa R. Pai
1
Rupa, R. Pai
1
Sudha Kartha, C (Guide)
1
Sudha Kartha, C.
1
ভাষা
English
2
প্রকাশনার বছর
থেকে:
অবধি:
লোডিং...