Rezultaty
1 - 6
Rezultaty od
6
Dla wyszukiwania '
'
Przejdź do treści
VuFind
Język
English
Deutsch
Español
Français
Italiano
日本語
Nederlands
Português
Português (Brasil)
中文(简体)
中文(繁體)
Türkçe
עברית
Gaeilge
Cymraeg
Ελληνικά
Català
Euskara
Русский
Čeština
Suomi
Svenska
polski
Dansk
slovenščina
اللغة العربية
বাংলা
Galego
Tiếng Việt
Hrvatski
हिंदी
Wszystkie pola
Tytuł
Autor
Hasło przedmiotowe
Sygnatura
ISBN / ISSN
Etykieta
Szukaj
Wyszukiwanie zaawansowane
Usuń filtry
Podobne hasła:
Scanning electron microscopy
Usuń filtry
Pokaż filtry (1)
Podobne hasła:
Scanning electron microscopy
Rezultaty
Podobne hasła w twoim wyszukiwaniu.
Podobne hasła w twoim wyszukiwaniu.
Scanning electron microscopy
Nanotechnology
2
Electron microscopy
1
Scanning probe microscopy
1
X-ray microanalysis
1
Rezultaty
1 - 6
Rezultaty od
6
Dla wyszukiwania '
'
, Czas wyszukiwania: 0,01s
Redukuj rezultaty
Sortuj
Ważność
Według najnowszych
Według najstarszych
Sygnatura
Autor
Tytuł
1
Ładuje się......
Scanning electron microscopy and x-ray microanalysis /
od
Goldstein, Joseph I
Wydane 2018
Sygnatura:
Ładuje się......
Zlokalizowane:
Ładuje się......
Dokumenty pełnotekstowe
Printed Book
2
Ładuje się......
Scannig transmission electron microscopy: imaging and analysis/
Wydane 2011
Sygnatura:
Ładuje się......
Zlokalizowane:
Ładuje się......
Dokumenty pełnotekstowe
Printed Book
3
Ładuje się......
Scanning probe microscopy of functional materials : nanoscale imaging and spectroscopy /
Wydane 2010
Sygnatura:
Ładuje się......
Zlokalizowane:
Ładuje się......
Dokumenty pełnotekstowe
Dokumenty pełnotekstowe
Dokumenty pełnotekstowe
Printed Book
4
Ładuje się......
Scanning microscopy for nanotechnology : techniques and applications /
Wydane 2007
Sygnatura:
Ładuje się......
Zlokalizowane:
Ładuje się......
Dokumenty pełnotekstowe
Dokumenty pełnotekstowe
Printed Book
5
Ładuje się......
Scanning microscopy for nanotechnology: Techniques and applications
od
Zhou, Weilie, Ed.; Wang, Zhong Lin, Ed
Wydane 2007
Sygnatura:
Ładuje się......
Zlokalizowane:
Ładuje się......
Printed Book
Ładuje się......
6
Ładuje się......
Scanning electron microscopy: applications to materials and device science
od
Thornton, P R
Wydane 1968
Sygnatura:
Ładuje się......
Zlokalizowane:
Ładuje się......
Printed Book
Ładuje się......
Narzędzie wyszukiwania:
Abonuj RSS
—
Wyślij rezultaty emailem
z powrotem
Redukuj rezultaty
Instytucja
University of Kerala
4
MG University
2
Biblioteka
Dept. of Optoelectronics
2
Dept. of Physics
2
Mahatma Gandhi University Library
2
Format
Printed Book
6
Sygnatura
500 - Natural sciences and mathematics
5
600 - Technology (Applied sciences)
1
Autor
Goldstein, Joseph I
1
Gruverman, A.
1
Kalinin, Sergei V.
1
Nellist, Peter D Ed
1
Pennycook, Stephen J Ed
1
Thornton, P R
1
Wang, Zhong Lin
1
Zhou, Weili
1
Zhou, Weilie, Ed.; Wang, Zhong Lin, Ed
1
Zobacz wszystkie ...
Rok wydania
od:
do:
Ładuje się......