Отображение
1 - 2
результаты of
2
для поиска '
'
Пропуск в контексте
VuFind
Язык
English
Deutsch
Español
Français
Italiano
日本語
Nederlands
Português
Português (Brasil)
中文(简体)
中文(繁體)
Türkçe
עברית
Gaeilge
Cymraeg
Ελληνικά
Català
Euskara
Русский
Čeština
Suomi
Svenska
polski
Dansk
slovenščina
اللغة العربية
বাংলা
Galego
Tiếng Việt
Hrvatski
हिंदी
Все поля
Заглавие
Автор
Предмет
Шифр
ISBN/ISSN
Метка
Найти
Расширенный поиск
Reset Filters
Предлагаемые темы:
Nondestructive testing
Reset Filters
Show filters (1)
Предлагаемые темы:
Nondestructive testing
Результаты поиска
Предлагаемые темы внутри своего поиска.
Предлагаемые темы внутри своего поиска.
Nondestructive testing
Speckle metrology
2
Отображение
1 - 2
результаты of
2
для поиска '
'
, время запроса: 0.01сек.
Отмена результатов
Сортировка
Релевантность
Нижняя дата
Верхняя дата
Шифр
Автор
Заглавие
1
Загрузка...
Speckle metrology /
Опубликовано 1993
Шифр:
Загрузка...
Местонахождение:
Загрузка...
Publisher description
Printed Book
2
Загрузка...
Speckle metrology /
Опубликовано 1993
Шифр:
Загрузка...
Местонахождение:
Загрузка...
Publisher description
Printed Book
Инструменты поиска:
RSS-поток
—
Отправить результаты поиска по Email
Назад
Сужение результатов поиска
Институт
University of Kerala
2
Библиотека
Dept. of Optoelectronics
2
Формат
Printed Book
2
Шифр
600 - Technology (Applied sciences)
2
Автор
Sirohi, R. S.
2
Язык
English
2
Дата издания
от:
по:
Загрузка...