Showing
1 - 2
results of
2
for search '
'
Skip to content
VuFind
שפה
English
Deutsch
Español
Français
Italiano
日本語
Nederlands
Português
Português (Brasil)
中文(简体)
中文(繁體)
Türkçe
עברית
Gaeilge
Cymraeg
Ελληνικά
Català
Euskara
Русский
Čeština
Suomi
Svenska
polski
Dansk
slovenščina
اللغة العربية
বাংলা
Galego
Tiếng Việt
Hrvatski
हिंदी
כל השדות
כותר
מחבר
נושא
סימן המיקום
ISBN/ISSN
תג
מצא
מתקדם
Reset Filters
נושאים מוצעים:
Nondestructive testing
Reset Filters
Show filters (1)
נושאים מוצעים:
Nondestructive testing
תוצאות חיפוש
בתוך החיפוש שלך נושאים מוצעים
בתוך החיפוש שלך נושאים מוצעים
Nondestructive testing
Speckle metrology
2
Showing
1 - 2
results of
2
for search '
'
, זמן שאילתה: 0.01s
Refine Results
מיון
רלוונטיות
תאריך יורד
תאריך עולה
סימן מיקום
מחבר
כותר
1
טוען...
Speckle metrology /
יצא לאור 1993
סימן המיקום:
טוען...
ממוקם:
טוען...
Publisher description
Printed Book
2
טוען...
Speckle metrology /
יצא לאור 1993
סימן המיקום:
טוען...
ממוקם:
טוען...
Publisher description
Printed Book
כלי חיפוש:
קבל רסס (RSS)
—
שליחת חיפוש דרך דואל
חזרה
צמצם חיפוש
מוסד
University of Kerala
2
ספריה
Dept. of Optoelectronics
2
פורמט
Printed Book
2
סימן המיקום
600 - Technology (Applied sciences)
2
מחבר
Sirohi, R. S.
2
שפה
English
2
שנת הוצאה לאור
מ:
אל:
טוען...