Résultat(s)
1 - 2
résultats de
2
pour la requête '
'
Aller au contenu
VuFind
Langue
English
Deutsch
Español
Français
Italiano
日本語
Nederlands
Português
Português (Brasil)
中文(简体)
中文(繁體)
Türkçe
עברית
Gaeilge
Cymraeg
Ελληνικά
Català
Euskara
Русский
Čeština
Suomi
Svenska
polski
Dansk
slovenščina
اللغة العربية
বাংলা
Galego
Tiếng Việt
Hrvatski
हिंदी
Tous les champs
Titre
Auteur
Sujet
Cote
ISBN/ISSN
Tag
Rechercher
Recherche avancée
Réinitialiser les filtres
Suggestion de sujets:
Nondestructive testing
Réinitialiser les filtres
Montrer les filtres (1)
Suggestion de sujets:
Nondestructive testing
Résultats de la recherche
Suggestion de sujets dans votre recherche.
Suggestion de sujets dans votre recherche.
Nondestructive testing
Speckle metrology
2
Résultat(s)
1 - 2
résultats de
2
pour la requête '
'
, Temps de recherche: 0,01s
Affiner les résultats
Trier
Pertinence
Date (décroissante)
Date (croissante)
Cote
Auteur
Titre
1
Chargement en cours...
Speckle metrology /
Publié 1993
Cote:
Chargement en cours...
Localisé:
Chargement en cours...
Publisher description
Printed Book
2
Chargement en cours...
Speckle metrology /
Publié 1993
Cote:
Chargement en cours...
Localisé:
Chargement en cours...
Publisher description
Printed Book
Outils de recherche:
S'abonner aux flux RSS
—
Envoyer cette recherche par courriel
Retour
Restreindre la recherche
Institution
University of Kerala
2
Bibliothèque
Dept. of Optoelectronics
2
Format
Printed Book
2
Cote
600 - Technology (Applied sciences)
2
Auteur
Sirohi, R. S.
2
Langue
English
2
Année de publication
De:
À:
Chargement en cours...