Näytetään
1 - 2
yhteensä
2
tuloksesta haulle '
'
Siirry sisältöön
VuFind
Kieli
English
Deutsch
Español
Français
Italiano
日本語
Nederlands
Português
Português (Brasil)
中文(简体)
中文(繁體)
Türkçe
עברית
Gaeilge
Cymraeg
Ελληνικά
Català
Euskara
Русский
Čeština
Suomi
Svenska
polski
Dansk
slovenščina
اللغة العربية
বাংলা
Galego
Tiếng Việt
Hrvatski
हिंदी
Kaikki kentät
Nimeke
Tekijä
Aihe
Hyllypaikka
ISBN/ISSN
Tagi
Hae
Tarkennettu
Poista rajaukset
Aihe-ehdotuksia:
Nondestructive testing
Poista rajaukset
Näytä rajaukset (1)
Aihe-ehdotuksia:
Nondestructive testing
Hakutulokset
Aihe-ehdotuksia
Aihe-ehdotuksia
Nondestructive testing
Speckle metrology
2
Näytetään
1 - 2
yhteensä
2
tuloksesta haulle '
'
, hakuaika: 0,01s
Tarkenna hakua
Järjestä
Relevanssi
Aika (uusimmat ensin)
Aika (vanhimmat ensin)
Luokka
Tekijä
Nimeke
1
Lataa...
Speckle metrology /
Julkaistu 1993
Hyllypaikka:
Lataa...
Sijainti:
Lataa...
Publisher description
Printed Book
2
Lataa...
Speckle metrology /
Julkaistu 1993
Hyllypaikka:
Lataa...
Sijainti:
Lataa...
Publisher description
Printed Book
Työkalut:
RSS-syöte
—
Lähetä haku sähköpostilla
Takaisin
Rajaa hakua
Organisaatio
University of Kerala
2
Kirjasto
Dept. of Optoelectronics
2
Aineistotyyppi
Printed Book
2
Hyllypaikka
600 - Technology (Applied sciences)
2
Tekijä
Sirohi, R. S.
2
Kieli
English
2
Julkaisuvuosi
Alkaen:
Päättyen:
Lataa...