Erakusten
1 - 2
emaitzak --
2
bilaketa honetara '
'
Joan edukira
VuFind
Hizkuntza
English
Deutsch
Español
Français
Italiano
日本語
Nederlands
Português
Português (Brasil)
中文(简体)
中文(繁體)
Türkçe
עברית
Gaeilge
Cymraeg
Ελληνικά
Català
Euskara
Русский
Čeština
Suomi
Svenska
polski
Dansk
slovenščina
اللغة العربية
বাংলা
Galego
Tiếng Việt
Hrvatski
हिंदी
Eremu guztiak
Izenburua
Egilea
Gaia
Sailkapena
ISBN/ISSN
Etiketa
Bilatu
Aurreratua
Reset Filters
Proposatutako topikoa:
Nondestructive testing
Reset Filters
Show filters (1)
Proposatutako topikoa:
Nondestructive testing
Bilaketaren emaitzak
Proposatutako topikoa bilaketarako iradokizunak
Proposatutako topikoa bilaketarako iradokizunak
Nondestructive testing
Speckle metrology
2
Erakusten
1 - 2
emaitzak --
2
bilaketa honetara '
'
, Bilaketaren denbora: 0,02s
Findu emaitzak
Antolatu
Garrantzia
Berrienatik atzera
Zaharrenetik aurrera
Sailkapena
Egilea
Izenburua
1
Lanean...
Speckle metrology /
Argitaratua 1993
Sailkapena:
Lanean...
Kokapena:
Lanean...
Publisher description
Printed Book
2
Lanean...
Speckle metrology /
Argitaratua 1993
Sailkapena:
Lanean...
Kokapena:
Lanean...
Publisher description
Printed Book
Bilaketa egiteko lanabesak:
RSS
—
Emaitzak posta elektronikoz bidali
Atzera
Emaitzak murriztu
Erakundea
University of Kerala
2
Liburutegia
Dept. of Optoelectronics
2
Formatua
Printed Book
2
Sailkapena
600 - Technology (Applied sciences)
2
Egilea
Sirohi, R. S.
2
Hizkuntza
English
2
Urtea
De:
a:
Lanean...