Skip to content
VuFind
שפה
English
Deutsch
Español
Français
Italiano
日本語
Nederlands
Português
Português (Brasil)
中文(简体)
中文(繁體)
Türkçe
עברית
Gaeilge
Cymraeg
Ελληνικά
Català
Euskara
Русский
Čeština
Suomi
Svenska
polski
Dansk
slovenščina
اللغة العربية
বাংলা
Galego
Tiếng Việt
Hrvatski
हिंदी
כל השדות
כותר
מחבר
נושא
סימן המיקום
ISBN/ISSN
תג
מצא
מתקדם
Scanning electron microscopy:...
יצירת מראה מקום
שלח את זה
הדפסה
יצוא רשומה
יצוא אל RefWorks
יצוא אל EndNoteWeb
יצוא אל EndNote
permanent_link
טוען...
Scanning electron microscopy: Systematic and evolutionary applications, Vol.4
מידע ביבליוגרפי
מחבר ראשי:
Heywood, V H, Ed
פורמט:
Printed Book
יצא לאור:
Academic Press, New York
1971
נושאים:
Electron microscope
מלאי ספרים
תיאור
פריטים דומים
תצוגת צוות
University of Kerala
פרטי מלאי ספרים מ University of Kerala
סימן המיקום:
O32,31N43x L3 KR
עותק
סטטוס עדכני לא זמין
פריטים דומים
Scanning electron microscopy, X-ray microanalysis and analytical electron microscopy
מאת: Lyman, Charles E, et al
יצא לאור: (1990)
Principles and techniques of scanning electron microscopy: Biological applications, Vol.6
מאת: Hayat, M A, Ed
יצא לאור: (1978)
Introduction to electron microscopy
מאת: Wischnitzer, Saul
יצא לאור: (1970)
Electron microscopy and analysis
מאת: Goodhew, Peter J, et al
יצא לאור: (2001)
Physical aspects of electron microscopy and microbeam analysis
מאת: Siegel, Benyamin M.
יצא לאור: (1975)
טוען...