Cargando...

Atom probe microscopy

Detalles Bibliográficos
Autor Principal: Gault, Baptiste et.al
Formato: Printed Book
Publicado: Springer 2012
Series:Springer series in materials science 160
Subjects:
LEADER 00626nam a2200193 4500
020 |a 9781461434351  |c 11643.52 
082 |a R 620.5 GAU-A 
100 |a Gault, Baptiste et.al 
245 |a Atom probe microscopy 
250
260 |a Springer  |c 2012 
300 |a 396 
490 |a Springer series in materials science 160 
500
590 |a Arunima Book Distributers  |b ABD-172 dt 16/01/2014  |c 11643.52 
650 |a Atom- probe field ion microscopy 
942 |c REF 
999 |c 85369  |d 85369 
952 |0 0  |1 0  |4 0  |6 R_620_500000000000000_GAUA  |7 0  |9 98837  |a PHY  |b PHY  |g 11643.52  |l 0  |o R 620.5 GAU-A  |p PHY07027  |r 2019-09-24  |w 2019-09-24  |y REF