Skip to content
VuFind
שפה
English
Deutsch
Español
Français
Italiano
日本語
Nederlands
Português
Português (Brasil)
中文(简体)
中文(繁體)
Türkçe
עברית
Gaeilge
Cymraeg
Ελληνικά
Català
Euskara
Русский
Čeština
Suomi
Svenska
polski
Dansk
slovenščina
اللغة العربية
বাংলা
Galego
Tiếng Việt
Hrvatski
हिंदी
כל השדות
כותר
מחבר
נושא
סימן המיקום
ISBN/ISSN
תג
מצא
מתקדם
Scanning microscopy for nanote...
יצירת מראה מקום
שלח את זה
הדפסה
יצוא רשומה
יצוא אל RefWorks
יצוא אל EndNoteWeb
יצוא אל EndNote
permanent_link
טוען...
Scanning microscopy for nanotechnology: Techniques and applications
מידע ביבליוגרפי
מחבר ראשי:
Zhou, Weilie, Ed.; Wang, Zhong Lin, Ed
פורמט:
Printed Book
יצא לאור:
Springer Publishing Co., New York
2007
נושאים:
Scanning electron microscopy
מלאי ספרים
תיאור
פריטים דומים
תצוגת צוות
University of Kerala
פרטי מלאי ספרים מ University of Kerala
סימן המיקום:
NWR L2 (R)
עותק
סטטוס עדכני לא זמין
פריטים דומים
Scanning microscopy for nanotechnology : techniques and applications /
יצא לאור: (2007)
Scanning electron microscopy
מאת: Wells, Oliver C.
יצא לאור: (1974)
Scanning electrochemical microscopy /
יצא לאור: (2001)
Theory and practice of scanning optical microscopy /
מאת: Wilson, Tony
יצא לאור: (1984)
Scanning electron microscopy: applications to materials and device science
מאת: Thornton, P R
יצא לאור: (1968)
טוען...