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Infrared ellipsometry on semiconductor layer structures: Phonons, plasmons, and polaritons

Detalhes bibliográficos
Autor principal: Schubert, Mathias
Formato: Printed Book
Publicado em: Springer (India) Pvt. Ltd., New Delhi 2004
Assuntos:

University of Kerala

Detalhes do Exemplar University of Kerala
Área/Cota: Cam3,M71, C 6 K8.3
Cód. Barras: Informação em tempo real indisponível