Ładuje się......

Infrared ellipsometry on semiconductor layer structures: Phonons, plasmons, and polaritons

Opis bibliograficzny
1. autor: Schubert, Mathias
Format: Printed Book
Wydane: Springer (India) Pvt. Ltd., New Delhi 2004
Hasła przedmiotowe:

University of Kerala

Szczegóły zapisu University of Kerala
Sygnatura: Cam3,M71, C 6 K8.3
Egzemplarz Możliwość dostępu nieznana