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Infrared ellipsometry on semiconductor layer structures: Phonons, plasmons, and polaritons
書誌詳細
第一著者:
Schubert, Mathias
フォーマット:
Printed Book
出版事項:
Springer (India) Pvt. Ltd., New Delhi
2004
主題:
Ellipsometry
所蔵
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University of Kerala
予約・返却請求 University of Kerala
請求記号:
Cam3,M71, C 6 K8.3
所蔵
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