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Infrared ellipsometry on semiconductor layer structures: Phonons, plasmons, and polaritons

Detalles Bibliográficos
Autor principal: Schubert, Mathias
Formato: Printed Book
Publicado: Springer (India) Pvt. Ltd., New Delhi 2004
Materias:

University of Kerala

Detalle de Existencias desde University of Kerala
Número de Clasificación: Cam3,M71, C 6 K8.3
Copia Estatus de actividad no disponible