Wird geladen...
Infrared ellipsometry on semiconductor layer structures: Phonons, plasmons, and polaritons
| 1. Verfasser: | |
|---|---|
| Format: | Printed Book |
| Veröffentlicht: |
Springer (India) Pvt. Ltd., New Delhi
2004
|
| Schlagworte: |
University of Kerala
| Signatur: |
Cam3,M71, C 6 K8.3 |
|---|---|
| Exemplar | Live-Status nicht verfügbar |