Načítá se...

Infrared ellipsometry on semiconductor layer structures: Phonons, plasmons, and polaritons

Podrobná bibliografie
Hlavní autor: Schubert, Mathias
Médium: Printed Book
Vydáno: Springer (India) Pvt. Ltd., New Delhi 2004
Témata:

University of Kerala

Informace o exemplářích z: University of Kerala
Signatura: Cam3,M71, C 6 K8.3
Jednotka Neznámá aktuální dostupnost