Infrared ellipsometry on semiconductor layer structures: Phonons, plasmons, and polaritons

Bibliografske podrobnosti
Glavni avtor: Schubert, Mathias
Format: Printed Book
Izdano: Springer (India) Pvt. Ltd., New Delhi 2004
Teme:
Ellipsometry
LEADER 00584nam a2200193 4500
020 |a 9783540232490 
082 |a 620.11295 SCH-I 
100 |a Schubert, Mathias 
245 |a Infrared ellipsometry on semiconductor layer structures: Phonons, plasmons, and polaritons 
250
260 |a Springer (India) Pvt. Ltd., New Delhi  |c 2004 
300 |a 190 
490
500
590 |a Gimish 
650 |a Ellipsometry 
942 |c BK 
999 |c 84677  |d 84677 
952 |0 0  |1 0  |4 0  |6 620_112950000000000_SCHI  |7 0  |9 98145  |a PHY  |b PHY  |l 0  |o 620.11295 SCH-I  |p PHY06335  |r 2019-09-24  |w 2019-09-24  |y BK 

Podobne knjige/članki