Přeskočit na obsah
VuFind
Jazyk
English
Deutsch
Español
Français
Italiano
日本語
Nederlands
Português
Português (Brasil)
中文(简体)
中文(繁體)
Türkçe
עברית
Gaeilge
Cymraeg
Ελληνικά
Català
Euskara
Русский
Čeština
Suomi
Svenska
polski
Dansk
slovenščina
اللغة العربية
বাংলা
Galego
Tiếng Việt
Hrvatski
हिंदी
Vše
Název
Autor
Téma
Signatura
ISBN/ISSN
Tag
Hledat
Pokročilé
Vyhledávání
X-ray scattering from semicond...
Vytvořit citaci
Poslat emailem
Vytisknout
Exportovat záznam
Exportovat do RefWorks
Exportovat do EndNoteWeb
Exportovat do EndNote
permanent_link
Načítá se...
X-ray scattering from semiconductors
Podrobná bibliografie
Hlavní autor:
Fewster, Paul F
Médium:
Printed Book
Vydáno:
Imperial College Press, London
2000
Témata:
X-rays and gamma rays; Electronics; Physics
Jednotky
Popis
Podobné jednotky
UNIMARC/MARC
Popis
Fyzický popis:
287
ISBN:
9781860941597
Podobné jednotky
X-rays in theory and experiment
Autor: Compton, Arthur H; Allison, Samuel K
Vydáno: (1963)
Elements of X-ray diffrection
Autor: Cullity, B D
Vydáno: (1967)
Fundamentals of optical, spectroscopic and X-ray mineralogy
Autor: Sachinath Mitra
Vydáno: (1989)
X-ray diffraction: a practical approach
Autor: Suryanarayana, C and Norton, Grant M
Vydáno: (1998)
X-ray diffraction: a practical approach
Autor: Suryanarayana, C and Norton, Grant M
Vydáno: (1998)
Načítá se...