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Accelerated testing : statistical models, test plans and data analyses

書誌詳細
第一著者: Nelson , Wayne B
フォーマット: Printed Book
出版事項: Hoboken, New Jersey Wiley-Interscience 2004
シリーズ:Wiley series in probability and statistics
主題:
その他の書誌記述
物理的記述:601
ISBN:9780471697367