Przejdź do treści
VuFind
  • Język
    • English
    • Deutsch
    • Español
    • Français
    • Italiano
    • 日本語
    • Nederlands
    • Português
    • Português (Brasil)
    • 中文(简体)
    • 中文(繁體)
    • Türkçe
    • עברית
    • Gaeilge
    • Cymraeg
    • Ελληνικά
    • Català
    • Euskara
    • Русский
    • Čeština
    • Suomi
    • Svenska
    • polski
    • Dansk
    • slovenščina
    • اللغة العربية
    • বাংলা
    • Galego
    • Tiếng Việt
    • Hrvatski
    • हिंदी
Wyszukiwanie zaawansowane
  • Speckle metrology /
  • Cytować
  • Wyślij emailem
  • Drukuj
  • Eksportuj rekord
    • Eksportuj do RefWorks
    • Eksportuj do EndNoteWeb
    • Eksportuj do EndNote
  • permanent_link
Ładuje się......

kod QR

Speckle metrology /

other_versions_link
Opis bibliograficzny
Kolejni autorzy: Sirohi, R. S.
Format: Printed Book
Język:English
Wydane: New York : Marcel Dekker, c1993.
Seria:Optical engineering (Marcel Dekker, Inc.) ; v. 38.
Hasła przedmiotowe:
Nondestructive testing.
Speckle metrology.
Dostęp online:Publisher description
  • Egzemplarz
  • Opis
  • other_versions_title
  • Podobne zapisy
  • Wersja MARC

Internet

Publisher description

Podobne zapisy

  • Speckle metrology /
    Wydane: (1993)
  • Holographic and speckle interferometry
    od: Jones, Robert
    Wydane: (1989)
  • Holographic and speckle interferometry : a discussion of the theory, practice, and application of the techniques /
    od: Jones, Robert
    Wydane: (1989)
  • Holographic and speckle interferometry : a discussion of the theory, practice, and application of the techniques /
    od: Jones, Robert, 1946-
    Wydane: (1989)
  • Speckle phenomena in optics : theory and applications /
    od: Goodman, Joseph W.
    Wydane: (2008)

Opcje wyszukiwania

  • Historia wyszukiwania
  • Wyszukiwanie zaawansowane

Dalsze opcje

  • Przeglądaj katalog
  • Przeglądaj alfabetycznie
  • Przeglądaj kanały

Pomoc

  • Wskazówka do wyszukiwania
  • Zapytaj bibliotekarza
  • Często zadawane pytania
Ładuje się......